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薄膜测厚仪与 X射线测厚仪的区别
  发布日期:2013-5-29 9:21:51   点击次数:807 录入:无损探伤|长沙宏特电子科技有限公司
测厚仪的品种非常之多,市场上测厚仪琳琅满目,让人看的眼花缭乱,我们最常用的测厚仪有:镀层测厚仪、超声波测厚仪、薄膜测厚仪、X射线测厚仪等等。

  薄膜测厚仪:薄膜测厚仪是根据β射线吸收原理,采用单板机进行数据出来,对薄 膜材料厚度进行测量的智能仪表。它既可以用在生产线上进行在线测量,也可用在研究室里进行样品检验。

  薄膜测厚仪优点:

  薄膜测厚仪具有精度高、相应快,非接触联系测量,安全可靠等优点,可为提高产品质量,降低产品成本,提供比较理想的监测首段。

  薄膜测厚仪适用范围:

  薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、橡胶薄膜、纸张及各种胶卷底片的厚度测量,也可以根据用户要求选配其他类型放射源为金属板,木板等各种 板材厚度测量服务。

  X射线测厚仪 :利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。

  X射线测厚仪优点:

  X射线检测可以显示缺陷的形状、平面位置、性质和大小,底片可以长期保留。对于如气孔、夹渣、缩孔等体积性缺陷,在X射线透照方向有较明显的厚度差,即使很小的缺陷也较容易检查出来。

  主要应用行业:X射线测厚仪比较适合用于企业生产的测量。例如铝、钢、铜、铁等等材料的测量。


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